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e-works为您找到 9  条结果

5纳米以下缺陷检测，谁来破局？

吞吐量仍然是一个问题，解决方案需要多种技术的结合。
智能检测装备
来源：半导体产业纵横
2025-05-27

应用材料公司展示最新检测设备，适用2纳米以下先进芯片

在半导体制造领域，检测与缺陷检查是确保产品质量和良率的关键环节。
智能检测装备
来源：微电子制造
2025-05-27

德方纳米：构建统一生产平台 打造数字化转型试点工厂

华磊迅拓根据德方纳米的需求，提供一套可协同的智能制造解决方案，帮助德方纳米以“精益化”为基础，“自动化”和“信息化”为支柱，通过“精益化、自动化、信息化”三化融合，实现“品质稳定、成本最优、柔性交付”的智能工厂。
其他
来源：华磊迅拓
2023-08-30

用飞秒激光加工纳米石墨烯，迎突破性进展！

近日，日本东北大学（Tohoku University）的研究人员使用飞秒激光成功地制造了微米／纳米石墨烯薄膜，在不损坏的情况下制造了多点孔，并去除了污染物。该团队表示，这项技术将有望取代传统的、更复杂的方法，为量子材料研究和生物传感器开发带来潜在的进展。
激光加工
来源：维科网激光
2023-06-08

南加州煤气公司新工艺：在制氢时获得碳纤维及碳纳米管

据外媒报道，南加州煤气公司（Southern California Gas Co．，SoCalGas）于近日宣布，该公司正与一支研发团队开展合作，采用了一款新工艺，将天然气转化为氢气、碳纤维及碳纳米管。
其他
来源：互联网
2018-01-26

韩国研发仿生纳米缝隙传感器具有突破性意义

EDA
来源：互联网
2017-10-25

PTC纪丰伟：纳米技术将深化物联网发展

产业发展
来源：互联网
2017-05-08

2011产品创新数字化峰会征文：通用纳米半导体器件的快速反向建模系统

本文针对集成电路中半导体器件建模的瓶颈（仿真时间过长、流片的成本巨大等因素），开发了一个通用的纳米器件反向建模软件系统。该系统发展了反向建模的理论，并结合最优化求解技术，可快速地获得器件制造工艺的最优参数，从而缩短半导体器件以及芯片设计到上市的周期，大大降低了芯片流片失败的风险。
EDA
来源：e-works
2011-11-16

28纳米设计有适当的代工厂支持吗？

当芯片设计向28纳米节点迈进时有许多事情都需要担心，绝不止什么您的芯片设计软件是否支持您首选代工厂的工艺技术之类的问题。有微捷码在，就无需担心这些。微捷码在解决复杂设计问题和确保代工厂对先进节点设计的支持方面有着公认的良好记录。
EDA
来源：微捷码公司
2011-05-05
共1页 总数：9条
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